Discussion:Spectrométrie de fluorescence des rayons X

Proposition AdQ

L'article a connu des corrections, mais n'a pas eu de modification majeure depuis 2 ans (avril 2007, date de la séparation de la partie « effets de matrice »). Je pense donc le proposer en AdQ.

C'est le moment de le dépoussiérer…

cdang | m'écrire 20 mai 2009 à 16:33 (CEST)

Essayons d'abord de mettre l'article au niveau de son homologue anglais, et après on verra quel niveau on peut viser...--EdC / Contact 20 mai 2009 à 23:21 (CEST)

J'ai externalisé un certain nombre d'explications pour alléger l'article, en particulier Interaction rayonnement-matière, Analyse dispersive en longueur d'onde, Analyse dispersive en énergie, Compteur proportionnel à gaz, Scintillateur et Perle fondue, ce qui fait que l'article fr peut paraître moins complet. Sinon, je vais déjà mettre quelques illustrations en plus (-:

cdang | m'écrire 22 mai 2009 à 13:51 (CEST)

C'est exact, l'article anglais n'est pas si bien que ça, et avec les articles français satellites, on devrait pouvoir faire rapidement que lque chose de bien. Je participerais volontiers à l'amélioration de l'article, mais il faut d'abord que je termine un chantier de peinture à la maison. Je me contente donc, por l'instant de faire des critiques:

• Quand il y a un article détaillé, le simple renvoi à l'article ne suffit pas. Dans beaucoup de cas, on devrait étoffer davantage, et éventuellment, rapatrier une figure.
• Il manque une section « historique ».
• l'EPMA est identifiée comme une technique voisine, alors que c'est une technique qui met en oeuvre de la XRF. Dans la pratique, je sais bien que les instruments EPMA sont rangés comme EPMA ou « sonde de Castaing » et que quand on parle de d'analyse par XRF, implicitement, on exclut l'EPMA ou le PIXE, mais dans les 2 cas, il y a biende la fluorescence X. Ces explications pourraient être placées au début, avec l'historique.
• Personnellement, je trouve qu'il y a trop de liste à puces. Si j'interviens vraiment dans l'article, je ne pourrais pas m'empêcher de les virer.

--EdC / Contact 23 mai 2009 à 16:09 (CEST)

Veinard pour la peinture, moi je suis dans la plomberie, élec, isolation, placo (dans l'ordre) ;-). Je vais voir ce que je peux faire, pour les listes je te les laisse, je les y ai mises car je trouve que ça aère, mais je comprend ton point de vue.

cdang | m'écrire 25 mai 2009 à 16:05 (CEST)

Fait pour l'historique intégrant Castaing et PIXE.

cdang | m'écrire 25 mai 2009 à 17:40 (CEST)

Comme j'ai terminé mes travaux de peinture, j'ai un peu travaillé sur l'historique, ce qui me donne le droit de critiquer encore: Je ne pense pas que les avantages et inconvénients aient leur place dans le chapeau... (Voir ci-après)!--EdC / Contact 27 mai 2009 à 23:30 (CEST)

Quel boulot ! Félicitations :-)

cdang | m'écrire 2 juin 2009 à 10:39 (CEST)

Figure optique inversée

Je ne comprends le sens de cette figure: qu'est-ce qui est inversé ? Comment la surface de l'échantillon reste-t-elle au niveau de référence ? --EdC / Contact 21 mai 2009 à 09:32 (CEST)

« Inversé » est le terme consacré, je suppose que les premiers systèmes éclairaient par dessus. Comme on observe la surface inférieure de l'échantillon, le niveau de cette surface est réglée par la pesanteur et donc pas la position du film polymère. Effectivement, c'était évident pour moi, d'où l'intérêt d'avoir un œil neuf.

cdang | m'écrire 22 mai 2009 à 13:48 (CEST)

NB Ce point est explicité sur Analyse dispersive en longueur d'onde#Spectromètre séquentiel ou simultané.

cdang | m'écrire 22 mai 2009 à 15:04 (CEST)

Avantages/Inconvénients

Je ne pense pas que les avantages et inconvénients aient leur place dans le chapeau,en particulier, parce que le sujet est assez complexe du fait qu'il y a un certain nombre de techniques plus ou moins concurrentes de la XRF, en particulier l'OES, en plus de l'ICP optique et l'ICP-MS. De plus, la XRF et les autres techniques existent souvent avec des hauts de gamme et des bas de gamme, si bien que le faible coût doit être manié avec beaucoup de précaution. Même chose pour le coté destructif ou non destructif: Pour certaines applications, oui, et pour d'autres, non. Je reconnais tes efforts, mais doit encore mieux faire !--EdC / Contact 27 mai 2009 à 23:30 (CEST)

Agreed. Le problème est que je connais mal l'ICP, et à peine mieux l'étincelage. Mais on peut déjà commencer par en faire une section à part.

cdang | m'écrire 2 juin 2009 à 10:40 (CEST)

On trouve pas mal de choses dans ce handbook, notamment p.434-435--EdC / Contact 2 juin 2009 à 22:51 (CEST)

Sur ce site-là également

Plan de l'article

Je propose de clarifier le plan de l'article: Après l'historique, on pourrait faire une partie "Physique de la fluorescence X" incluant cequi est commun à toute la famille: émission fluorescente,bruit de fond, effets de matrice, estimation des éléments légers, expression des résultats, et puis une partie instrumentation naturellement structurée en Source de rayonnement primaire, échantillon, spectromètre, détecteur. Dans cette partie instrumentation, on privilégierait la XRF en signalant que les autres existent. Enfin une troisième partie applications où la présentation des différentes variantes aurait sa place, ainsi que les comparaisons avec les autres techniques. Et puis, le reste...--EdC / Contact 28 mai 2009 à 09:38 (CEST)

J'ai fait une restructuration selon ce plan, et une relecture.

cdang | m'écrire 2 juin 2009 à 11:58 (CEST)

Mocheté de la figure de proue

Christophe, je dois te dire que le spectro parallélipédique installé dans une cimenterie que l'on trouve à ce jour en tête de gondole, je le trouve moche. Il ne donne vraiment pas envie de s'intéresser à la fluorescence X. Je le relèguerais volontiers vers le bas, en le rapetissant, et en haut, pourquoi ne pas mettre le chimiste en noir et blanc qui trifouille son goniomètre et que tu as déjà installé dans la dispersion en longueur d'onde? On ne voit qu'une partie de son visage, mais il transparait derrière celui-ci une certaine humanité tout à l'honneur de la communauté des fluorescents X. Qu'en penses-tu ?--EdC / Contact 4 juin 2009 à 09:44 (CEST)

Pas tout à fait un an après la proposition : c'est fait. Ça te va mieux ? Effectivement, ça fait un peu moins aride.

cdang | m'écrire 6 avril 2010 à 14:46 (CEST)

Analyse dispersive en énergie

Bonjour, je viens de la part de cdang, il m'a demandé de vous demander votre avis sur une question :

En ce qui concerne l'analyse dispersive en énergie. Lorsque les photons reviennent dans l'appareil. Ils créent des défauts électrons/trous, donc en fait c'est comme plus tôt de l'effet photoélectrique. Du coup par transition électronique, on a encore fluorescence X. Si c'est le cas, dans le spectre on devra aussi voir le Si et le Li non ?

Merci.

TheDoctor44 (d) 11 juin 2009 à 17:41 (CEST)

Je ne suis pas sûr de bien comprendre la question, mais je crois comprendre quand même: Si les X qui viennent de la source vers l'échantillon produisent d'autres X caractéristiques de l'échantillon, pourquoi les X qui viennent de l'échantillon vers le détecteur ne produiraient-ils pas eux-aussi des X caractéristiques du détecteur ? et pourquoi ces X générés au coeur même du détecteur ne seraient-ils pas détectés par ledit détecteur ? c'est bien ça ? Je vais tenter de donner quelques réponses: Oui, la création d'une paire électron-trou peut être considérée comme un effet photoélectrique qui crée un déséquilibre dans les couches électroniques des atomes de Si. Il peut y avoir génération de RX de 1.74 keV, correspondant à la raie Kα du Si. Si ce photon X de 1,74 keV crée des paires électrons-trous correspondant à sont énergie, en fin de compte, toute l'énergie du photon incident aura été convertie en création de paires électrons-trous, et ce photon sera détéecté pour ce qu'il est. Mais si le photon X de 1.74 keV arrive à s'échapper, le salaud, il nous met dans l'embarras, parce que sa fuite sera comptabilisée par autant de paires électrons trous en moins, et le photon X incident ne sera pas compté pour ce qu'il est, mais il sera pris pour un photon de l'énergie du photon incident moins 1,74 keV. On verra sur le spectre un petit pic parasite, un artefact que l'on appelle escape peak en anglais. En français, on peut dire « pic de fuite » ou « pic d'échappement ». Si le photon incident est caractéristique de la raie Kα du Cr (5.41 keV), le pic parasite sera à 3.67 keV, et il se confondra avec la raie Kα du Cu à 3.69 keV. Si ça vous embête vraiment, une seule solution, le WDS, mais on va aussi trouver des artefacts produits avec les éléments présents dans le cristal. les choses ne sont pas simples. --EdC / Contact 12 juin 2009 à 00:04 (CEST)

Création de l'article Détecteur de rayons X

Le contenu de la section Les détecteurs sera bientôt (peut-être…) transféré dans Détecteur de rayons X, afin de mutualiser les infos des autres articles (en particulier Rayons X).

cdang | m'écrire 12 septembre 2012 à 15:22 (CEST)