Spectrométrie de fluorescence des rayons X
La spectrométrie de fluorescence X (SFX ou FX) est une méthode d'analyse chimique élémentaire utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.
Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentration massiques en éléments.
L'analyse du spctre peut se faire de deux manières :
- par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray spectroscopy)
- par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray spectroscopy)